仪器编号: 14007565 |
仪器型号: TI-750L |
购置日期: 2014-11-07 |
单价(万元): 73.1328 |
厂家: 美国Hysitron公司 |
技术指标: 1. 力的最小分辨率 <1 .0nN; 2. 位移的最小分辨率 <1.0nm; 3. 最小接触力 <70 nN; 4. 横向载荷noise floor 3.5 μN; 5. XY 定位 误差在+/-50nm; 6. 热漂移 <0.05nm/s; 7. 完全电脑控制样品台模块; 8. 样品台测试尺寸:不小于70mm x 70mm。 |
仪器介绍: |
存放位置:南高院101 |
保管单位:电子科学与工程学院 |
管理负责人:张倩 |
共享: 预约仪器 |
预约须知: 预约前请与管理责任人张老师(025-83792632转8840)沟通确认仪器状态和具体测试时间。根据机时和样品数两者计费。 |
收费参考标准: |
主要功能: 测试则主要针对微米、纳米尺度的微结构和微传感器,涉及到的多晶硅、二氧化硅、有机薄膜、聚合物等材料的刚度大小不一,大量测试实验。 |
仪器设备开放时间: 详情请查看仪器预约表 |