东南大学贵重精密仪器共享系统

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基本信息
半导体参数测试仪

仪器名称: 半导体参数测试仪

仪器编号: 13008307
仪器型号: 4200-SCS
购置日期: 2013-12-06
单价(万元): 42.976
厂家: 泰克
技术指标:

2:系统总体要求: 2.1 要求系统具备4个能分辨到0.1fA的SMU单元; 2.2 要求系统具备一个C-V测试单元; 3.系统SMU单元技术要求: 3.1 数量为4个;SMU的电流测量范围为0.1fA-100mA;精度10fA; 3.2 SMU单元其他通用技术指标:最大电压源为210V,电压源设定最小分辨率(Force Resolution)5μV;是完全保护的四线测量结构;配备相应的三同轴电缆线; 4.系统C-V单元技术要求: 4.1 频率范围:1KHz-5MHz; 4.2 频率精度:±0.1%; 4.3 偏置电压:至少达到±60V 4.4 系统具备C-V参数分析能力,可提取氧化层厚度、栅面积、串联电阻、平带电压、开启电压、体掺杂、金属-半导体功函数、德拜长度、体电势等参数。 4.5包含C-V和I-V测量间自动切换模块:可实现C-V和I-V测量间自动切换,不会影响测量精度。

仪器介绍:

存放位置:显示中心2楼超净
保管单位:集成电路学院
管理负责人:吴忠  
共享: 不可用
预约须知:

收费参考标准:
主要功能:

半导体参数测试系统用于测试半导体器件和纳米器件的电学综合性能,提供测试报告,图形,为设计人员提供数据参考。 支持二极管、三极管、MOS管等半导体器件以及材料的直流电流-电压(I-V)测量,准静态和中频电容-电压(C-V)测量,时域测量等。